半導體科技新聞 - 雙鑲嵌的需求 銅線寬的電阻係數量測 - Semicondutor News, Science and Technology

雙鑲嵌的需求 銅線寬的電阻係數 量測 日期：2001/10/4 來源：半導體科技 Timothy Turner, Keithley Instruments Inc, Solon, Ohio 相關的銅線寬電性測量很複雜，不像鋁線寬測量那麼直接了當，瞭解了這一點，就可為雙嵌製程提供一個可行的測量 ...

ri.search.yahoo.com