根據2007 年的預測,2008 年12 的半導體曝光設備 市場規模將 較2007 年縮減10%, 2008 年初以來,全球經濟環境的變化與DRAM ... 晶圓製造廠商要求其使用的檢查設備 可以檢測出型式或設計 的 新缺陷、微粒子與難以檢驗的異物,因此KLA-Tencor 將投 重 ...
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