光學相干斷層掃描 - 維基百科，自由的百科全書

光學相干斷層掃描 也被廣泛的應用於工業界，如無損檢測、材料厚度測量、表面粗糙度測量、表面和截面成像 ... ^ Fercher, AF; Mengedoht, K; Werner, W. Eye-length measurement by interferometry with partially coherent light.. Optics letters. 1988, 13 (3): 186doi ...

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