第四章 高解析度穿透式電子顯微鏡分析(HRTEM) 發展、成像原理 、儀器設備、分析方法以及實際應用的例子，作完整的介紹。 關鍵字：電子顯微鏡(EM)、高解析度穿透式電子顯微鏡分析(HRTEM ...
閎康科技股份有限公司 > 白光干涉儀(OP) 物性故障分析,Structure analysis,Physical Faliure Analysis,PFA,非破壞性分析,Non-destructive Analysis,location,光學顯微鏡,Optical Microscope ,OM,X光,X-ray,超音波掃瞄,SAT ,白光干涉儀,Optical Profiler,OP,SAM,Scanning Acoustic Microscope,Scanning ...
國立清華大學材料工程學系 - 08/11/2014 12:28:03 pm +0800 - Open WebMail 姓名: 楊長謀 職稱: 教授 辦公室電話: 03-5715131 #33850(Lab:33819) 研究專長: -高分子微觀物理性質 -高分子薄膜、表面與介面 -光電高分子（發電與發光材料及元件） -奈米複合材料（奈米碳管共價結合高分子） -電漿材料製程 -微細加工技術（噴墨技術與微高 ...
第 三 章 晶 體 與 晶 體 結 構 分 析 第 三 章 晶 體 與 晶 體 結 構 分 析 PART A. 晶體（ crystal ） A-1 晶體的特性 1. 結構特性：以單位晶胞（ unit cell ）為單元，週期性且重覆性地出現相同之結構。 Note ： 單位晶胞 → 組成晶體最小之基本規則排列單元。
光槓桿（Optical Lever）原理 - 高瞻自然科學教學資源平台 接下來，我們從嚴謹的角度來証明 光槓桿原理 ： 由於圖形稍嫌複雜，所以我們先依序在各線條上編上編號 － ...
X-ray繞射基礎原理介紹....有介紹 Miller indices,Bravais lattices,單晶的排列. ... 用到的數學工具為fourier analysis，可用sin、cos的組合來描述，這個函數可描述在空間中任何週期的行為，此時reciprocal space的電子 ...
第二章 X光單晶繞射分析及 X 光粉末繞射分析 含Rietveld refinement) 相對位置模型。而粉末繞射所得繞射數據則少得多，僅為一維空間之繞射光譜，處理起來較單晶數據複 雜，但因單晶樣品不易合成或取得，因此粉末繞射仍 常被使用於材料之晶體構造解析之研究上。 3 儀器介紹
閎康科技股份有限公司 > X-光檢測(X-ray) 技術原理 基本上，X-ray成像的方式，是利用穿透過被照射物體的X-ray，經過映像裝置而形成可見影像，主要用來觀察IC中含金屬材質或結構是否有異常，舉凡 打線，銀膠，花架等。 機台種類 閎康科技目前擁有新型X-ray機台：Fen Focus FXS-160.40 TIGER X ...
繞射（Diffraction） - 高瞻自然科學教學資源平台 本週熱門 2014年你不可錯過的觀星盛事 比爾定律(Beer’s Law)與吸收度(Absorbance) 細胞週期的調控（Cell Cycle） 準確度(Accuracy)和精確度(Precision) X-光繞射(X-ray diffraction)與布拉格定律(Bragg’s Law) 形式電荷(Formal Charge)
半導體科技.先進封裝與測試雜誌 - Osram探索通往高效能綠光LED的道路 - Semicondutor Magazine 3> 為什麼綠光LED的效率如此低落？這是因為載子注入程序出了問題，歐傑(Auger)損失過高，還是內部電場過強，或是單純的材料品質問題呢？Osram公司的Matthias Peter提出了以上的問題。 以InGaN做為發光層的LED是目前LED市場上最關鍵的 ...
