電子顯微鏡 - A+醫學百科 簡稱電鏡，是使用電子來展示物件的內部或表面的顯微鏡。 高速的電子的波長比可見光的波長短（波粒二象性），而顯微鏡的解析度受其使用的波長的限制，因此電子顯微鏡的解析度（約0.2納米）遠高於光學顯微鏡的解析度（約200納米）。
電子顯微鏡介紹 – SEM
4 顯微鏡之構造、原理及使用
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穿透式電子顯微鏡（Transmission Electron Microscopy：TEM） 穿透式電子顯微鏡（Transmission Electron Microscopy：TEM） 國立彰化師範大學物理所陳建淼研究生/國立彰化師範大學物理學系洪連輝教授責任編輯 A.TEM簡介 自1930年代第一台商用電子顯微鏡於英國建立以來，由於影像解析度受限於所供輸電子能量，隨著高壓設備 ...
Scanning electron microscope - Wikipedia, the free encyclopedia A scanning electron microscope (SEM) is a type of electron microscope that produces images of a sample by scanning it with a focused beam of electrons. The electrons interact with atoms in the sample, producing various signal...
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單電子電晶體的工作原理與應用 單電子電晶體的工作原理與應用-4-圖(六):單電子電晶體的基本電路圖 資料來源:胡淑芬()。奈米級金粒子型單電子電晶體研發現況。科學發展月刊第1期第29卷，p.29-36。檢索日期:2007/10/07。http://nr.stpi.org.tw/ejournal/NSCM/v29n1/Embag/29-36.pdf
掃描電子顯微鏡SEM基礎知識Scanning Electron Microscope 掃描電子顯微鏡的工作 原理 掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點 掃描 ...
電子顯微鏡介紹– SEM - 材料世界網 Ruska在其實驗室製作出第一部穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope ... 掃描式電子顯微鏡原理的提出與發展，約與TEM 同時; 在1935年提出掃瞄式.
