宜特科技- 可靠度測試 - iST 宜特科技-分析、檢測與可靠度、主要業務在提供IC檢測，FIB，零件可靠度，系統可靠 度，IC壽命測試等服務。- 可靠度測試.
閎康科技股份有限公司> IC封裝打線服務 - MA-tek 封裝,打線,Packaging,Bonding,COB Bonding,鋁線焊線,Al bonding,金線焊線, Golding ... SOP 8L陶瓷封裝, DIP 20L陶瓷封裝, DIP 40L陶瓷封裝, DIP 48L陶瓷 封裝 ...
宜特科技| 掃描式電子顯微鏡(SEM) - iST 宜特科技-分析、檢測與可靠度、主要業務在提供IC檢測，FIB，零件可靠度，系統可靠 度，IC壽命測試等服務。 - 材料分析- 成份分析- 掃描式電子顯微鏡(SEM)
智慧生活SEM / EDX應用與探討 2011年5月11日 ... 掃描式電子顯微鏡(scanning electron ,microscope, SEM)利用電子成像 ... EDX)可 做表面化學成分分析，對於產品觀察以及缺陷或異質分析，皆可在 ...
SEM-EDS 2007年8月22日 ... 景深(Depth of Focus)長. ▫ 除了可觀察三度空間的立體影像外，亦. 可加裝X光的偵 測器如EDS或WDS等，. 來作化學成份的分析，係一高性能的材.
電子顯微鏡介紹– SEM - 材料世界網 以下我們將針對掃瞄式電子顯微鏡(Scanning Electron Microscopy；SEM)之原理與 ... 質，就必須有良好的顯微分析技術及工具。 ... 偵測特徵X光作材料元素成分分析。
FE-SEM/CL/EBSD 分析技術簡介 http://www.materialsnet.com.tw 92 年9 月201 期工業材料雜誌99 □. 檢測技術在奈 米科技之應用專題. FE-SEM/CL/EBSD 分析技術. 簡介. ◎作者：黃宏勝* 、林麗娟**.
材料分析 - 汎銓科技 分析目的, 分析內容, 分析技術, 英文簡稱全名. 化學成分的分析, 微區元素成份, AES, EELS/TEM, EDS/TEM, SIMS ... SEM: Scanning electron microscopy
材料微觀結構分析 汪建民, “材料分析＂, (中國材料科學學會). 2. ... 掃描式電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope, SEM) .... 各種材料分析技術在成分方面所能提供的解析度 示意圖.
掃描電子顯微鏡SEM基礎知識 - 怡星(中國)有限公司 (6) 可進行多種功能的分析。與X 射線譜儀配接，可在觀察形貌的同時進行微區成分 分析；配有光學顯微鏡和單色儀等附件時，可觀察陰極螢光圖像和進行陰極螢光光譜 ...
