2013 台灣奈米科技展 台灣奈米科技展十週年活動贈品區，舉辦看展覽抽hTC J活動，吸引不少參觀者到場打卡拿抽獎券! ... 工研院研發的主動式體溫調節衣是藉由偵測人體溫度做為致動訊號，回饋控制調節衣內的循環冷卻液，達到有效率的降低人體溫度。
掃描探針顯微鏡(Scanning Probe Microscope) 掃描探針顯微鏡(Scanning Probe Microscope) 台北縣立三民高級中學化學科林秀蓁老師/國立台灣大學化學系陳藹然博士責任編輯 俗話說「眼見為憑」，人的眼睛可以看到的極限大概是毫米(mm)，到了微米尺寸 譬如細胞就必須借助顯微鏡。
Atomic force microscopy - Wikipedia, the free encyclopedia Atomic force microscopy (AFM) or scanning force microscopy (SFM) is a very high-resolution type of scanning probe microscopy, with demonstrated resolution on the order of fractions of a nanometer, more than 1000 times ...
宜特科技| 掃描式電子顯微鏡(SEM) - IST 掃描式電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope, SEM）主要利用電子光學系統將電子槍產生的電子聚焦成一微小的電子束至樣品表面，並利用掃描線圈使其在樣品 ...
原子力顯微鏡（Atomic Force Micricopy, AFM）（一） 原子力顯微鏡 （Atomic Force Micricopy, AFM）（一） 國立彰化師範大學物理所陳建淼研究生/國立彰化師範大學洪連輝教授責任編輯 A. 原子力顯微鏡 介紹 藉由AFM人們將第一次直觀地看到了原子、分子，被人們稱為可以看得見原子的顯微鏡。
AFM-原子力顯微鏡原理 第 4 章 原子力顯微鏡原理 （ atomic force microscope, AFM ） 由於 STM 侷限於試片的導電性質，使得應用範圍大大的減少，為了能有更廣泛的應用科用，故改用力場作回饋而發展出原子顯微儀（ atomic force microscope, AFM ），而因為對導體及絕緣體均有 ...
不確定性原理 - 維基百科，自由的百科全書 為了解釋不確定性原理，海森堡設計出伽瑪射線顯微鏡思想實驗 [17]。在這實驗裏，實驗者朝著電子發射出一個光子來測量電子的位置和動量。波長短的光子可以很準確地測量到電子位置；但是，它的動量很大，而且會因為被散射至隨機方向，轉移了 ...
AFM-原子力顯微鏡原理 第4章. 原子力顯微鏡原理. （atomic force microscope, AFM）. 由於STM侷限於試片的導電性質，使得應用範圍大大的減少，為了能有更廣泛的應用科用，故改用力場作 ...
AFM-原子力顯微鏡基本原理 第2章. 原子力顯微鏡基本原理. (Atomic Force Microscpoic：AFM). AFM簡介. 奈米技術(Nanotechnology) 是指在奈米尺度(1nm到10nm之間)上研究物質(包括原子及 ...
Nanosurf AFM 原子力顯微鏡原理簡介 Nanosurf easyScan2 FlexAFM 原子力顯微鏡原理簡介. 三朋儀器股份有限公司. 竹北市自強南路8號8F-13. TEL : 03-550-8385. 曹勝益. 2010-12-22. AFM 基本構想.
