2013年6月26日 - 檢測設備主要是對晶圓進行掃描檢測缺陷,找出缺陷並進而幫助提高良率,許金榮指出,因光學檢測解析度有限,約在65奈米製程就會遭遇瓶頸,該公司的電子束檢測採跳躍式結合電子槍技術,適用40、28、20奈米等先進製程晶圓缺陷 ...
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